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談電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)NIELVIS應(yīng)用

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談電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)NIELVIS應(yīng)用

本文以基于NIELVIS電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)模塊設(shè)計(jì)應(yīng)用為研究對(duì)象,首先對(duì)不同類型的電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行了簡單的介紹與分析,隨后探討了基于nielvis的模擬電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)應(yīng)用,最后針對(duì)數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K,提出了基于NIELVIS平臺(tái)的設(shè)計(jì)應(yīng)用措施,希望能夠?yàn)橄嚓P(guān)研究提供一定參考。傳統(tǒng)電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)較為復(fù)雜,學(xué)生在實(shí)驗(yàn)過程中,常會(huì)因?yàn)榻泳€錯(cuò)誤或其他原因?qū)е聦W(xué)生精力被分散,難以專注于實(shí)驗(yàn)本身的研究。因此,通過在NIELVIS平臺(tái)之上,做好電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K的設(shè)計(jì)應(yīng)用,能夠有效解決這一問題,讓學(xué)生專心進(jìn)行實(shí)驗(yàn)操作,鍛煉學(xué)生的創(chuàng)新能力與實(shí)踐能力,從根本上提升實(shí)驗(yàn)教學(xué)效果。

1不同類型的電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)概述

當(dāng)前,在高等教育實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)教學(xué)發(fā)展已經(jīng)日趨完善,并且已經(jīng)形成了一個(gè)完善的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目體系,這些實(shí)驗(yàn)教學(xué)本身有著較強(qiáng)針對(duì)性,且層次分明,能夠呈現(xiàn)豐富的知識(shí),已經(jīng)在很多高校中得到了良好的應(yīng)用。學(xué)生通過參與這些實(shí)驗(yàn),在教師引導(dǎo)下,能夠鍛煉自己的動(dòng)手實(shí)踐能力,加深學(xué)生對(duì)理論知識(shí)的理解,提高學(xué)生學(xué)習(xí)效果。按照知識(shí)點(diǎn)綜合程度這一標(biāo)準(zhǔn),我們可以將電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目分為以下四種類型:一是基本技能型實(shí)驗(yàn)。這種實(shí)驗(yàn)整體操作相對(duì)簡單,包含內(nèi)容也并不復(fù)雜,主要目的是讓學(xué)生在參與實(shí)驗(yàn)的過程中,掌握一些實(shí)驗(yàn)電子儀器的用法。在高校中,比較常用的電子實(shí)驗(yàn)儀器有很多,比如:雙蹤數(shù)字示波器、信號(hào)發(fā)生器、晶體管測試儀等,這些儀器均有專門針對(duì)性基本技能實(shí)驗(yàn);此外,在基本技能型實(shí)驗(yàn)的幫助下,學(xué)生還能夠了解識(shí)別基本的電子元器件,比如:電容、電感、半導(dǎo)體器件等,并認(rèn)識(shí)到不同實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)?zāi)K。二是驗(yàn)證型實(shí)驗(yàn)。這種類型的電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)與理論教學(xué)內(nèi)容有著非常緊密的聯(lián)系,通常需要學(xué)生通過操作相關(guān)的實(shí)驗(yàn),來驗(yàn)證所學(xué)的一些理論知識(shí)的正確性;在這一過程中,進(jìn)一步加深對(duì)實(shí)驗(yàn)儀器儀表操作的了解與熟悉;同時(shí),對(duì)于理論知識(shí)理解也會(huì)更加深刻,在此過程中,學(xué)生還可學(xué)習(xí)如何進(jìn)行數(shù)據(jù)的測試與處理。三是綜合型實(shí)驗(yàn)。在這種類型的實(shí)驗(yàn)中,涉及到的內(nèi)容通常具有綜合性、復(fù)雜性特點(diǎn),要求學(xué)生將不同知識(shí)點(diǎn)融合在一起,才能順利完成電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的操作。一般只有在學(xué)生經(jīng)過一段時(shí)間的學(xué)習(xí)后,才能有機(jī)會(huì)接觸到這類實(shí)驗(yàn)。通過該類型實(shí)驗(yàn),能夠有效檢驗(yàn)學(xué)生對(duì)知識(shí)綜合應(yīng)用及分析的能力。對(duì)于綜合實(shí)驗(yàn)而言,本身開放性更強(qiáng),耗費(fèi)時(shí)間更久,期間需要學(xué)生自主進(jìn)行相關(guān)資料查找,做好實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理,能夠有效培養(yǎng)學(xué)生獨(dú)立思考能力與獨(dú)立工作能力。四是設(shè)計(jì)型實(shí)驗(yàn)。相較于綜合性實(shí)驗(yàn),設(shè)計(jì)型實(shí)驗(yàn)開放性更強(qiáng),通常由教師給定實(shí)驗(yàn)任務(wù)的要求與條件,學(xué)生自主進(jìn)行實(shí)驗(yàn)方案的設(shè)計(jì),并最終通過實(shí)驗(yàn)完成教師布置的任務(wù)。在整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程中,學(xué)生有著非常大的自主性,需要學(xué)生綜合應(yīng)用各學(xué)科知識(shí),尋找實(shí)驗(yàn)核心原理,自主確定實(shí)驗(yàn)材料、實(shí)驗(yàn)所需的儀器設(shè)備、實(shí)驗(yàn)發(fā)生條件等,并以此為依據(jù),完成實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì),最終達(dá)到實(shí)驗(yàn)?zāi)康?。這對(duì)于培養(yǎng)學(xué)生創(chuàng)新能力、團(tuán)隊(duì)協(xié)作能力、獨(dú)立解決問題能力有著較為積極的影響。綜上,通過上述四種類型的電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)我們能夠認(rèn)識(shí)到,這些實(shí)驗(yàn)本身有著不同的目的,在對(duì)學(xué)生能力培養(yǎng)方面也有著較強(qiáng)的針對(duì)性,能逐步引導(dǎo)學(xué)生學(xué)習(xí)掌握更深層次的知識(shí)與操作技巧,提高學(xué)生綜合素質(zhì)?;诖耍ㄟ^結(jié)合上述四個(gè)類型的電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目,做好針對(duì)性實(shí)驗(yàn)?zāi)K的設(shè)計(jì)與應(yīng)用;在此基礎(chǔ)上,再進(jìn)一步整合不同實(shí)驗(yàn)?zāi)K,使其形成一個(gè)完整有價(jià)值的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),能夠讓學(xué)生的實(shí)踐能力得到有效培養(yǎng),并真正應(yīng)用于未來工作實(shí)踐中去。

2基于NIELVIS的模擬電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)應(yīng)用

驗(yàn)證型實(shí)驗(yàn)是模擬電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的一項(xiàng)比較經(jīng)典的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目,該實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目包含諸多內(nèi)容,常見的有單級(jí)晶體管共射極放大電路、功率放大電路等。在當(dāng)前的模擬電子技術(shù)理論教學(xué)中,上述實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目均囊括了很多典型的應(yīng)用知識(shí)點(diǎn),使學(xué)生對(duì)理論知識(shí)的理解有重要的幫助。實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目要求學(xué)生以相關(guān)原理圖為依據(jù),選擇在實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)箱或面包板之上,自主搭建相應(yīng)的電路,并做好電路試運(yùn)行,分析電路運(yùn)行結(jié)果。在實(shí)驗(yàn)開展過程中,學(xué)生也會(huì)遇到一些問題,多是因?yàn)闆]有正確進(jìn)行插線連接所引發(fā)。若電路的干路連線比較復(fù)雜,比如:多級(jí)阻容耦合放大電路便是其中典型代表。針對(duì)該電路,僅依靠學(xué)生自身,雖大量耗時(shí)也很難及時(shí)發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的連線,因此會(huì)給學(xué)生帶來挫敗感。為避免出現(xiàn)這類問題,在實(shí)際進(jìn)行實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)時(shí),針對(duì)連線電路,需要制成印制電路板形式,讓學(xué)生可以直接將元器件安放在模塊上。在實(shí)際進(jìn)行電路測試時(shí),針對(duì)線路連接,能夠借助跳線帽來完成,保證線路連接的正確性。例如:針對(duì)某兩級(jí)放大電路實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)中,根據(jù)該電路原理圖元器件排列,設(shè)計(jì)的模塊會(huì)與之一一對(duì)應(yīng),學(xué)生在實(shí)際進(jìn)行實(shí)驗(yàn)操作時(shí),只需要將元器件插入相應(yīng)位置;在PCB板之上,可以利用走銅線,提前將不同元器件準(zhǔn)確連接在一起。在實(shí)際測試時(shí),由于設(shè)置有專門測試點(diǎn),然后通過導(dǎo)線引出接入ELVIS原型板之中,即可在測試點(diǎn)之上完成測量工作。如果電路需要依次測量,在實(shí)際進(jìn)行模塊設(shè)計(jì)中,引入了插針元件,該元件的默認(rèn)狀態(tài)是斷開狀態(tài),只需要安插上短接帽,即可處于連接狀態(tài)。仍以兩級(jí)放大電路為例,針對(duì)第一級(jí)放大電路靜態(tài)工作點(diǎn),在實(shí)際調(diào)試過程中,可以將插針默認(rèn)斷開進(jìn)行測試,如果需要兩級(jí)放大,只需要在測試點(diǎn)安插上短接帽,即可使得電路處于連接狀態(tài)。這種實(shí)驗(yàn)?zāi)K的設(shè)計(jì),能夠減輕學(xué)生實(shí)驗(yàn)壓力,讓學(xué)生能夠?qū)P姆治鰧?shí)驗(yàn)原理和結(jié)果。針對(duì)功率放大電路的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目模塊,還可以按照實(shí)驗(yàn)?zāi)K上的電路,分步驟做好元器件的安插,第一步能夠讓學(xué)生觀察雙電源互補(bǔ)對(duì)稱電路的交越失真程度;第二步能夠組成偏置電路,從而有效緩解電路交越失真的問題;在此過程中,通過在電路中引入二極管,能夠?yàn)槿龢O管提供合適的偏壓,使其處于微導(dǎo)通狀態(tài),如此一來,學(xué)生能夠?qū)Ω纳坪蟮慕辉绞д媲闆r進(jìn)行全面了解;第三步還可以在模塊上引入自舉電路,電路有相應(yīng)元器件組成,從而促使功率放大電路的特點(diǎn)得到彰顯,還能夠逐步展示不同操作下的器件組成原理,并讓學(xué)生對(duì)相應(yīng)原理有全面的認(rèn)知。在此基礎(chǔ)上,還能夠進(jìn)行波形對(duì)比輸出,進(jìn)一步加深學(xué)生印象,能夠有效改善以往電路連線錯(cuò)誤帶來的問題,充分發(fā)揮實(shí)驗(yàn)的價(jià)值。

3基于NIELVIS的數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)應(yīng)用

從當(dāng)下高校開展的數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)現(xiàn)狀來看,采用的數(shù)字集成芯片規(guī)模均較小,難以滿足實(shí)際實(shí)驗(yàn)需求。比如:想要完成一個(gè)規(guī)模相對(duì)較大的綜合型數(shù)字電路實(shí)驗(yàn),通常需要多個(gè)通用集成芯片,不僅效率低下,而且在實(shí)際應(yīng)用中,這些芯片應(yīng)用已經(jīng)越來越少,無法起到鍛煉學(xué)生能力的作用?;诖耍诂F(xiàn)有數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)應(yīng)用中,應(yīng)積極引入一些先進(jìn)的器件與技術(shù)。比如可以引入可編程邏輯器件,從而讓學(xué)生能夠?qū)W到更多貼合實(shí)際的知識(shí)與技術(shù)。對(duì)于通用型中小規(guī)模集成電路而言,雖然在理論上也能夠組成較為復(fù)雜的數(shù)字系統(tǒng),但在實(shí)際操作上可行性不佳,因?yàn)樵诿姘逯线M(jìn)行電路搭建時(shí),容易出現(xiàn)線路接觸不良問題,且問題原因多種多樣,學(xué)生很難在短時(shí)間內(nèi)找出解決的方法,容易打擊學(xué)生開展實(shí)驗(yàn)的積極性。為解決這一問題,可以在實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)中,引入可編程邏輯器件(CPLD),設(shè)計(jì)人員能夠在相應(yīng)軟硬件環(huán)境的幫助下,自主完成芯片的功能定義。學(xué)生也能夠在此過程中完成數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)輸入、編譯、優(yōu)化、仿真、下載、執(zhí)行等,可有效實(shí)現(xiàn)學(xué)生實(shí)踐操作能力的培養(yǎng)。對(duì)于CPLD實(shí)驗(yàn)內(nèi)容設(shè)計(jì)而言,能夠給予學(xué)生更大的自主探索空間,不會(huì)讓學(xué)生局限于理論,僅僅對(duì)相關(guān)原理進(jìn)行驗(yàn)證,而是能夠引導(dǎo)學(xué)生從全局入手,了解一個(gè)完整數(shù)字系統(tǒng)的設(shè)計(jì),并且在其中能夠有機(jī)會(huì)應(yīng)用新興的技術(shù),提高學(xué)生實(shí)踐能力。對(duì)于綜合性和設(shè)計(jì)性較強(qiáng)的數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)來說,需要做好CPLD數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)?zāi)K的設(shè)計(jì),在初始設(shè)計(jì)中,模塊功能一般較簡單。具體而言,通過在模塊設(shè)計(jì)中引入Max7000s系列CPLD芯片,同時(shí)提供了ByteBlaster下載線,I/O引腳自定義,并將引腳引出至模塊插孔上,交由學(xué)生自定義,NIELVIS則需要提供芯片的電源。在后續(xù)過程中,隨著學(xué)生理論知識(shí)越來越豐富,實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)會(huì)更深入,一般會(huì)在此基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)出CPLD實(shí)驗(yàn)?zāi)K2.0,在顯示終端之上,額外新增了液晶屏、8×8點(diǎn)陣、蜂鳴器等器件;同時(shí)對(duì)電源也進(jìn)行了改進(jìn),不再需要NIELVIS供電,而是采用了USB供電,防止學(xué)生出現(xiàn)電源接反問題,導(dǎo)致芯片被燒毀。在新的實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)中對(duì)CPLD芯片也進(jìn)行了更新,采用了更先進(jìn)的VHDL文本設(shè)計(jì);下載方式也變得更加豐富,學(xué)生可以選擇串口下載,也可以選擇USBCPLD實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目模塊進(jìn)行下載,能夠從根本上排除接線復(fù)雜的干擾,保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性,同時(shí)也給予了學(xué)生一定的自主開發(fā)空間,讓學(xué)生有機(jī)會(huì)進(jìn)行開發(fā)實(shí)踐。從當(dāng)下數(shù)字電子技術(shù)理論課程和實(shí)驗(yàn)課程內(nèi)容來看,關(guān)于VHDL或Veilog硬件編程語言內(nèi)容比較少,因此為了更好完成實(shí)驗(yàn),使用先進(jìn)的儀器設(shè)備與技術(shù),還需要學(xué)生利用課外時(shí)間,加強(qiáng)上述編程知識(shí)的學(xué)習(xí)。通過在CPLD實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目模塊的幫助下,能夠讓學(xué)生在實(shí)驗(yàn)室以外的地方進(jìn)行使用學(xué)習(xí)。學(xué)生可以結(jié)合自身興趣,做好相應(yīng)數(shù)字系統(tǒng)的開發(fā)研究,真正意義上實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室開放,有利學(xué)生綜合素質(zhì)培養(yǎng)??偨Y(jié):通過做好電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K化設(shè)計(jì),不僅能夠有效幫助學(xué)生排除一些客觀因素的干擾,讓學(xué)生專心于理論知識(shí)的驗(yàn)證與實(shí)踐操作技術(shù)的鍛煉;同時(shí),也為學(xué)生提供了更為廣闊的自主研究空間。因此需要采取有效措施,加強(qiáng)對(duì)不同類型電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)?zāi)K化設(shè)計(jì),促使實(shí)驗(yàn)?zāi)K設(shè)計(jì)的作用得到發(fā)揮,提高學(xué)生實(shí)踐能力。

作者:張磊 單位:齊哈爾工程學(xué)院